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Schaltungstest mit Boundary Scan, m. CD-ROM
ISBN/GTIN

Schaltungstest mit Boundary Scan, m. CD-ROM

BuchKartoniert, Paperback
Verkaufsrang86747inTechnik

Beschreibung

Das Buch erläutert zunächst die Grundlagen des Boundary-Scan-Tests, wobei ausführlich auf die IC-Familien eingegangen wird, die zum Aufbau des Scan-Test erforderlich sind. Dann wird anhand der diversen Bausteinfamilien einzelner Hersteller die Anwendung komplexer programmierbarer Logikbausteine im Scan-Test-Pfad beschrieben. Zwei Kapitel sind den Werkzeugen, die den Scan-Test unterstützen aus der Sicht der Praxis gewidmet.
Weitere Beschreibungen

Details

ISBN/GTIN978-3-7785-2519-7
ProduktartBuch
EinbandKartoniert, Paperback
SpracheDeutsch
Gewicht494 g
Illustrationenmit 1 CD-ROM
Artikel-Nr.1184563
KatalogZeitfracht
Datenquelle-Nr.961970017
WarengruppeTechnik
Weitere Details

Über den/die AutorIn

Prof. Dr.-Ing. Adolf Auer hat seit 1986 einen Lehrstuhl an der Natur-Wissenschaftlichen Technischen Akademie Isny und ist Dozent für Elektronik u.Automatisierungstechnik bei Nixdorf AG. Zahlreiche Buchveröffentlichungen.