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VLSI Design and Test

23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers
E-BookPDFE-Book
Verkaufsrang52106inInformatik EDV
CHF127.50

Beschreibung

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.



The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.
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Details

Weitere ISBN/GTIN9789813297678
ProduktartE-Book
EinbandE-Book
FormatPDF
Format HinweisWasserzeichen
Erscheinungsdatum17.08.2019
Auflage1st ed. 2019
ReiheCommunications in Computer and Information Science
Reihen-Nr.1066
Seiten775 Seiten
SpracheEnglisch
IllustrationenXVI, 775 p. 545 illus., 336 illus. in color.
Artikel-Nr.8445468
KatalogVC
Datenquelle-Nr.3177146
WarengruppeInformatik EDV
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