Es ist bekannt, daB die oxidischen Glaser in dem Bereich von Zimmertemperatur bis zum vollstandigen Schmelzen Ionenleiter sind. Dieser Tatbestand stiitzt sich auf zahlreiche Untersuchungen, wie EMK-Messungen [1,2, 3], Studien der Polarisation [4, 5] und vor allem auf die quantitative Verfolgung des Stromtransportes [6, 7, 8]. Ausnahme von dieser Regel bilden nur die Glaser, die groBere Mengen von Oxiden der Obcrgangsmetalle (z. B. Mn, Fe, V) enthalten. 1m letzteren Fall ist eine iiberwiegende Elcktronenleitung nachweis bar. 1m allgemeinen sind groBe Bindungsenergien und kovalente Bindungen eine starke Be hinderung des Ionentransportes im Glas, so daB eine Wanderung der Netzwerkbildner in Form von Ionen unterhalb des Transformationsbereiches kaum bemerkbar ist. Bei dies en Temperaturen trag en den elektrischen Strom Ionen, die zu Netzwerkwandlern gehoren, d. h. zu denjenigen Elementen, die sehr locker in das Gitter eingebaut sind und die Kontinuitat des Netzwerkes unterbrechen. In erster Linie sind als Ladungstrager die monovalenten Metallionen, und zwar die Alkaliionen und das Ag+ bekannt [9, 10]. Die Etscheinung der Ionenwanderung unter Einfl.uB des elektrischen Feldes bei Glasern ist Objekt von zahlreichen Untersuchungen gewesen, vor allem wahrend der beiden letzten Jahrzehnte. Die Kenntnis dieser Eigenschaft ist wichtig fiir die Technologie des Glases besonders dort, wo von dem Glas auch eine Isolationsfahigkeit verlangt wird. Ferner dient das systematische Studium der elektrischen Leitfahigkeit theoretischen Zwecken, d. h. der Ermittlung des Wanderungsmechanismus det Ionen in dem Glas.
